关于检测助焊剂残留影响的四项试验

本篇推文围绕电化学迁移测试、铜镜测试、铜板腐蚀试验、绝缘电阻测试展开，对这四项试验的相关内容进行介绍。

电子模块外壳开裂失效分析

样品在进行密封测试时，产品外壳出现开裂，本篇文章主要对产品外壳开裂的原因进行失效分析。

贴片电阻失效分析

贴片电阻在生产过程中发现失效不良，对三个批次的电阻样品分别进行X-RAY分析、表面观察、阻值测试、切片分析、SEM分析及EDS分析，发现问题发生在电阻Ni层与保护膜结合处。

电涌保护器弹片焊点开裂失效分析

电涌保护器主要用于低压配电系统、过电压钳位和浪涌电流泄放。其工作模式为大电流冲击时，弹片焊点位置温度升高软化，发生开路，起到保护作用。
本次分享的案例，失效发生在产品客户端波峰焊后，产品内部焊点剥离，产品持续性发生不良，个别批次不良率较高。

开关不良失效分析

拨动开关回流后拨动臂开关困难。据此现象，通过外观分析——X-RAY检测——拨动力分析——断面分析等手段，对样品进行失效分析，找寻失效机理，判断失效原因。

LED蓝灯失效分析

LED 灯珠出现不亮、暗亮的情况，且样品安装前在仓库存放了一个月、安装后过了3-6个月才被点亮。

车载电池FPC连接片虚焊失效分析

某车载电池充电异常，经初步分析是内部FPC连接板接触不良导致。

BGA焊接开裂失效分析案例

球栅阵列封装（英语：BGA、Ball Grid Array，以下简称BGA）技术为应用在集成电路上的一种表面黏着封装技术，此技术常用来永久固定如微处理器之类的的装置。
BGA焊接失效问题往往直接关系到器件的质量。基于此，下文针对BGA焊接出现开裂问题作出了分析。

电解电容阻值降低失效分析

电解电容在PCBA测试时检出阻值偏低异常，针对样品进行初步测试，电容阻值偏低的现象不稳定，因此对失效样品进行分析。

LED常见失效案例及分析

针对LED产品发生的失效问题，主要集中于银胶松脱、金线断裂、应力裂纹等方面。以下分析了这三种常见的情况，即LED晶元底部的银胶松脱、LED内部金线断裂及晶圆与银胶结合处应力裂纹。

产品可靠性研究不可不知的知识之MTTF

现如今，电子产品更新日趋频繁，产品投产前的可靠性测试便显得尤为重要。与此同时，在日常工作中，我们发现，客户的设计规格要求一般会有这个产品的设计使用寿命(或期待寿命），表述为”常温条件下（%）负载……H（年）”。在这样的背景之下，就涉及到我们如何从结构设计、材料选择、工艺设计等方面满足客户对产品可靠性的要求，如何通过预估和验证，达到客户这方面的要求。因此，MTTF可靠性研究应运而生。

芯片底部焊接不良失效分析

当芯片底部出现焊接不良的问题时，我们可以怎么进行失效分析呢？本篇案例运用X-ray检测——断面检测——焊锡高度检测——SEM检测的方法，推断出芯片底部出现焊接不良的失效原因，并据此给出改善建议。

PCB熔锡不良失效分析

锡厚度不均匀导致的镀层合金化是热风整平（喷锡）工艺PCB常见的失效模式。本篇文章针对此问题，分享案例。

PCBA失效分析

PCBA元器件发生脱落现象，据此进行试验分析，查找失效原因。

PCB熔锡不良现象背后的失效机理