检测项目

TESTING ITEMS

激光开封机

IC的快速开盖设备,开封时间约1分钟左右,可移除任何塑封器件的封装材料,PCB板的开封及截面切割,功率器件和IC托盘上多个开封的预开槽。特别是铜引线封装有很好的开封效果。不像酸性法开盖容易受有些金属如铜容易和酸发生化学反应。如果需要结合化学开封,会得到更好的开封效果。

 

用途:用于对塑封电子元器件进行开盖检测,查看内部金线等结构。

 

开封效果图: