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  • 车载电池FPC连接片虚焊失效分析

    某车载电池充电异常,经初步分析是内部FPC连接板接触不良导致。

    0 2024-10-09
  • BGA焊接开裂失效分析案例

    球栅阵列封装(英语:BGA、Ball Grid Array,以下简称BGA)技术为应用在集成电路上的一种表面黏着封装技术,此技术常用来永久固定如微处理器之类的的装置。
    BGA焊接失效问题往往直接关系到器件的质量。基于此,下文针对BGA焊接出现开裂问题作出了分析。

    6 2024-09-29
  • 电解电容阻值降低失效分析

    电解电容在PCBA测试时检出阻值偏低异常,针对样品进行初步测试,电容阻值偏低的现象不稳定,因此对失效样品进行分析。

    4 2024-09-27