AFM(C-AFM)

AFM（Atomic Force Microscopy，原子力显微镜）是一种能够在纳米尺度上对样品表面形貌、力学特性以及其他物理性质进行高分辨率成像的扫描探针显微技术。

而C-AFM（Conductive Atomic Force Microscopy）是AFM的一种模式，主要应用于导电或半导体材料的研究。在C-AFM模式下，AFM探针不仅能够实现三维表面形貌的测量，还可以通过带有导电性的探针来探测样品表面的电学性质，如电流分布、电阻率、载流子类型和浓度等信息。

当导电探针与样品表面接触或保持一定距离时，在外部电场作用下，探针可以感知到由于样品局部电阻变化引起的电流变化，从而生成反映样品电学性能的图像。

C-AFM因此常被用于研究集成电路器件、太阳能电池、薄膜材料以及生物分子的电子传输过程等领域。